Експериментален елипсометър LCP-25

Кратко описание:

Ръчният елиптичен поляриметър използва метода на екстинкция за измерване на дебелината и коефициента на пречупване на филма и ръчно регулира отклонението и ъгъла на отклонение по време на изпитвателния процес. Елипсометрията се използва широко при измерване на тънки диелектрични филми върху твърда основа. При метода за измерване на дебелината на филма тя може да бъде измерена с най-малка и най-висока точност.

Изпратете ни имейл

Детайли за продукта

Етикети на продукти

Спецификации

Описание	Спецификации
Диапазон на измерване на дебелина	1 nm ~ 300 nm
Диапазон на ъгъла на падане	30º ~ 90º, грешка ≤ 0,1º
Ъгъл на пресичане на поляризатор и анализатор	0º ~ 180º
Ъглова скала на диска	2º на скала
Мин. отчитане на нониус	0,05º
Височина на оптичния център	152 мм
Диаметър на работната маса	Φ 50 мм
Общи размери	730x230x290 мм
Тегло	Приблизително 20 кг

Списък с части

Описание	Количество
Елипсометър	1
He-Ne лазер	1
Фотоелектричен усилвател	1
Фото клетка	1
Силициев филм върху силициева основа	1
Компактдиск със софтуер за анализ	1
Ръководство за употреба	1