Експериментален елипсометър LCP-25

Кратко описание:

Ръчният елиптичен поляриметър използва метода на екстинкция за измерване на дебелината и индекса на пречупване на филма и ръчно регулира отклонението и ъгъла на отклонение на процеса на изпитване.Елипсометрията се използва широко при измерване на диелектричен тънък слой върху твърд субстрат.При метода за измерване на дебелината на филма, тя може да бъде измерена до най-тънката и най-висока точност.

Изпратете имейл до нас

Подробности за продукта

Продуктови етикети

Спецификации

Описание	Спецификации
Диапазон на измерване на дебелината	1 nm ~ 300 nm
Диапазон на ъгъл на падане	30º ~ 90º, Грешка ≤ 0.1º
Ъгъл на пресичане на поляризатор и анализатор	0º ~ 180º
Ъглова скала на диска	2º на скала
Мин.Четене на Верние	0,05º
Височина на оптичния център	152 мм
Диаметър на работната сцена	Φ 50 mm
Габаритни размери	730x230x290 мм
Тегло	Приблизително 20 кг

Списък на частите

Описание	Кол
Елипсометър	1
He-Ne лазер	1
Фотоелектрически усилвател	1
Фото клетка	1
Силициев филм върху силиконова подложка	1
CD със софтуер за анализ	1
Инструкция за употреба	1