LCP-25 Experimental Ellipsometer Featured Image

LCP-25 Експериментален елипсометър

Кратко описание:

Подробности за продукта

Продуктови етикети

Въведение

Ръчният елиптичен поляриметър използва метода на екстинкция за измерване на дебелината и индекса на пречупване на филма и ръчно регулира отклонението и ъгъла на отклонение на тестовия процес. Елипсометрията се използва широко при измерването на диелектричен тънък филм върху твърда основа. При метода за измерване на дебелината на филма той може да бъде измерен с най-тънка и най-висока точност.

Спецификации

Описание	Спецификации
Обхват на измерване на дебелината	1 nm ~ 300 nm
Обхват на ъгъла на инцидента	30º ~ 90º, Грешка ≤ 0,1º
Ъгъл на пресичане на поляризатора и анализатора	0º ~ 180º
Дискова ъглова скала	2º на скала
Мин. Четене на Верние	0,05º
Височина на оптичния център	152 мм
Диаметър на работния етап	Φ 50 мм
Габаритни размери	730x230x290 мм
Тегло	Приблизително 20 кг

Списък на части

Описание	Кол
Елипсометър	1
Лазер He-Ne	1
Фотоелектрически усилвател	1
Photo Cell	1
Силициев филм върху силициев субстрат	1
CD със софтуер за анализ	1
Инструкция за употреба	1